Krystalografia B - laboratorium 1200-1ZMKRYBL5
Laboratoria podzielone są na dwie części: teoretyczną oraz praktyczną.
a) Zajęcia części teoretycznej odbywają się co tydzień przez cały semestr.
Część teoretyczna poświęcona będzie rozwiązywaniu zadań związanych z tematyką poruszaną na wykładzie z Krystalografii B oraz zagadnieniom pojawiającym się w części praktycznej, czyli: morfologii kryształów, operacji i elementów symetrii brył i cząsteczek, grup punktowych, ilustracji symetrii punktowej za pomocą projekcji, reguł współistnienia elementów symetrii, komórki elementarnej i jej zawartości, koordynacji jonów i stechiometrii związków, symetrii translacyjnej, układom krystalograficznym, sieciom przestrzennym, wskaźnikom Millera, prostym obliczeniom krystalograficznym, sieciom Bravais, grupom przestrzennym i ich interpretacji w Międzynarodowych Tablicach Krystalograficznych, podstawom dyfrakcji promieni rentgenowskich, równaniu Bragga i równaniom Lauego, sieci odwrotnej, konstrukcji Ewalda, czynnikom wpływających na intensywność wiązki ugiętej, czynnikom struktury, wygaszeniom systematycznym, opisowi macierzowego symetrii, parametrom geometrycznym cząsteczek, właściwościom promieniowania neutronowego i elektronowego.
b) Laboratoria w części praktycznej stanowią serię 10 spotkań po 4h, które rozpoczynają się w 5 tygodniu zajęć dydaktycznych, aby umożliwić studentom zapoznanie się z podstawowym materiałem z wykładów oraz z części teoretycznej niezbędnym przy realizacji zadań praktycznych.
Obejmują zadania związane bezpośrednio z tokiem rentgenowskiej analizy strukturalnej: metody krystalizacji (np. nastawianie prostej krystalizacji), problematykę wyboru kryształu odpowiedniego do rentgenowskiej analizy strukturalnej (ocena jakości i rozmiaru kryształów pod mikroskopem), sposoby umieszczania wybranego kryształu na dyfraktometrze, ocenę jakości uzyskanego rozpraszania rentgenowskiego (m.in. ocenę rozdzielczości danych rentgenowskich oraz weryfikację, czy próbka jest monokrystaliczna), wykonywanie krótkich pomiarów w celu określenia parametrów sieci odwrotnej i sieci rzeczywistej dla wybranej próbki, określanie symetrii dyfraktogramów (klasy Lauego), analizę wygaszeń systematycznych, pokaz redukcji danych dyfrakcyjnych, rozwiązywanie i udokładnianie struktury dla wybranej próbki za pomocą oprogramowania krystalograficznego (SHELX/OLEX2), ocenę jakości uzyskanych danych rentgenowskich oraz wiarygodności udokładnionego modelu struktury, interpretację informacji strukturalnej przechowywanej w pliku formatu CIF (a więc: znajdowanie długości wiązań, wartości kątów walencyjnych i kątów torsyjnych, opis oddziaływań międzycząsteczkowych w sieci, opis konformacji i ustalanie konfiguracji absolutnej dla wybranego związku), wizualizację danych strukturalnych za pomocą programów krystalograficznych (OLEX2, Mercury), metody przeszukiwania krystalograficznych baz danych strukturalnych (w szczególności CSD, także PDB, ICSD), walidację danych znalezionych w wyniku takiego przeszukiwania.
Dostęp do materiałów dydaktycznych, wejściówki oraz ocena sprawozdań odbywają się przez platformę KAMPUS.
Rodzaj przedmiotu
Tryb prowadzenia
Założenia (opisowo)
Koordynatorzy przedmiotu
W cyklu 2025Z: | W cyklu 2024Z: |
Efekty kształcenia
Oczekujemy nabycia następujących umiejętności:
a) znajomość i zrozumienie podstaw krystalografii w zakresie opisu symetrii i budowy sieci krystalicznych, oraz w zakresie badań rentgenograficznych kryształów i rentgenograficznego wyznaczania struktury geometrycznej molekuł i biomolekuł
b) nastawienie prostej krystalizacji, praca z mikroskopem, ocena, czy dana próbka może nadawać się do celów rentgenowskiej analizy strukturalnej, określenie symetrii dyfraktogramu (klasa Lauego), interpretacja danych strukturalnych (wyszukiwanie parametrów geometrycznych, ocena jakości i wiarygodności danych), podstawowe posługiwanie się bazami danych strukturalnych oraz oprogramowaniem do wizualizacji takich danych.
Kryteria oceniania
Ocena z Laboratorium wyznaczana jest jako średnia arytmetyczna z dwóch ocen a) i b) wystawianych na podstawie:
a) krótkich pisemnych sprawdzianów odbywających się na początku każdych laboratoriów teoretycznych z wyjątkiem pierwszych zajęć. Krótkie maksymalnie 10 minutowe sprawdziany oceniane są w skali od 1 do 10 punktów. Ocena ze sprawdzianów wystawiana jest na podstawie sumarycznej liczby punktów zdobytych w w/w sprawdzianach (w procentach maksymalnej możliwej do zdobycia liczby punktów):
Punkty zdobyte (x) przeliczane są na oceny w/g skali (mlp – maksymalna liczba punktów możliwych do zdobycia):
x>90% max. liczby punktów (mlp) ocena 5
80% < x < 90% mlp ocena 4+
70% < x < 80% mlp ocena 4
60% < x < 70% mlp ocena 3+
50% < x < 60% mlp ocena 3
x < 50% mlp ocena 2
W indywidualnych przypadkach aktywność studentów na zajęciach może być podstawą podwyższenia uzyskanej oceny.
b) Sprawozdań przygotowywanych przez studentów po każdym laboratorium praktycznym, w tym 15min. prezentacji zawierającej streszczenie artykułu naukowego związanego z rentgenowską analizą strukturalną. Sprawozdania oceniane są w skali od 1 do 10 punktów, za prezentację można uzyskać maksymalnie 20 punktów. Ocena wystawiana jest na podstawie sumarycznej liczby punktów zdobytych za sprawozdania oraz prezentację (w procentach maksymalnej możliwej do zdobycia liczby punktów):
Punkty zdobyte (x) przeliczane są na oceny w/g skali (mlp – maksymalna liczba punktów możliwych do zdobycia):
x>90% max. liczby punktów (mlp) ocena 5
80% < x < 90% mlp ocena 4+
70% < x < 80% mlp ocena 4
60% < x < 70% mlp ocena 3+
50% < x < 60% mlp ocena 3
x < 50% mlp ocena 2
Każdy student wykonuje sprawozdania oraz prezentację indywidualnie.
W indywidualnych (ABSOLUTNIE WYJĄTKOWYCH) przypadkach aktywność studentów na zajęciach może być podstawą podwyższenia uzyskanej oceny.
SPRAWOZDANIA powinny być dostarczone w ciągu tygodnia od wykonania laboratorium, najpóźniej do końca dnia, w którym odbywa się kolejne aboratorium.
W przypadku sprawozdania oddanego po terminie, całkowita liczba punktów do zdobycia za dane sprawozdanie ulega pomniejszeniu:
o 1 pkt (max: 9 pkt) - opóźnienie o 1 tydzień
o 3 pkt (max: 6 pkt) - opóźnieniu o 2 tygodnie
o 5 pkt (max: 4 pkt) - opóźnieniu o 3 i więcej tygodni
Sprawozdania mogą być umieszczone w formie elektronicznej wraz z niezbędnymi plikami dodatkowymi na platformie KAMPUS.
Prowadzący ma prawo (również na prośbę studentów) zlecić studentom poprawę oddanego sprawozdania. W wyniku poprawy sprawozdania całkowita liczba punktów do zdobycia za dane sprawozdanie ulega pomniejszeniu o co najmniej 0.5 pkt.
Studenci mają tydzień na poprawę sprawozdania.
Poprawy sprawozdania można dokonać bezpośrednio po jego ocenie. Nie jest dopuszczalna sytuacja, w której student np. tuz przed sesją postanawia poprawić sprawozdanie z Laboratorium 1.
NIEOBECNOŚCI
Nieobecność na zajęciach uważa się za usprawiedliwioną, jeżeli:
a) student przedstawi zwolnienie lekarskie w najbliższym możliwym terminie
b) student uprzedzi prowadzącego o planowanej nieobecności uzasadnionej np.: uczestnictwem w konferencji lub egzaminem.
c) student nie zaliczył wejściówki
Usprawiedliwioną nieobecność można odrobić podczas zajęć innej grupy lub, w indywidualnych przypadkach, w terminie wyznaczonym przez prowadzącego podczas sesji egzaminacyjnej.
Nieusprawiedliwiona nieobecność na zajęciach skutkuje przyznaniem studentowi 0 pkt. za sprawozdanie z tych zajęć.
Nieusprawiedliwione nieobecności na 4 zajęciach będą interpretowane jako rezygnacja z przedmiotu.
WEJŚCIÓWKI
Warunkiem uczestnictwa w zajęciach praktycznych jest zaliczenie 5-min. wejściówki, udostępnionej na 2 dni przed laboratorium na platformie KAMPUS, której celem jest sprawdzenie, czy student przed zajęciami zapoznał się z materiałem w skrypcie i zalecaną literaturą. Uzyskanie 0p z wejściówki skutkuje koniecznością opuszczenia zajęć (nieobecność usprawiedliwiona) i koniecznością odrobienia ich w terminie wskazanym przez prowadzącego. Oceny z wejściówek NIE MAJĄ wpływu na ocenę z przedmiotu.
Praktyki zawodowe
nie dotyczy
Literatura
1. Z. Bojarski, M. Gigla, K. Stróż, M. Surowiec, Krystalografia. Podręcznik wspomagany komputerowo, PWN, Warszawa, 1996, 2001, 2007.
2. Z. Trzaska Durski, H. Trzaska Durska, Podstawy krystalografii, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003.
3. M. van Meerssche i J. Feneau-Dupont, Krystalografia i chemia strukturalna, PWN, Warszawa 1984.
4. J. P. Glusker, M. Lewis, M. Rossi, Crystal Structure Analysis for Chemists and Biologists, VCH Publishers (1994).
5. C. Giacovazzo, H. Z. Monaco, D. Biterbo, F. Scordari, G. Gilli, G. Zanotti, M. Catti, Fundamentals of Crystallography, IUCR, Oxford University Press, 2000.
Więcej informacji
Dodatkowe informacje (np. o kalendarzu rejestracji, prowadzących zajęcia, lokalizacji i terminach zajęć) mogą być dostępne w serwisie USOSweb: