Charakterystyka fizykochemiczna próbek do analizy 1200-1ZMCHFPW5

W ramach wykładu (połączonego merytorycznie z pracownią "Charakterystyka fizykochemiczna próbek do analizy" ) omówione będą zagadnienia dotyczące wybranych technik fizykochemicznych stosowanych we współczesnej analizie chemicznej materiałów: Przedstawione zostną metody przenoszenia analitu z próbek laboratoryjnych (esktrakcja sekwencyjna, mineralizacja, stapianie) np. przed analizą spektrometrią mas sprzężona ze wzbudzeniem w plazmie (ICPMS), spektroskopia fotoelektronów (XPS), spektrometria mas jonów wtórnych (SIMS), technika powierzchniowo wzmocnionego rozpraszania ramanowskiego (SERRS) oraz sprzężenia rezonansowego, metody fotoelektrochemiczne w badaniu aktywności i morfologii fotoogniw, metody charakterystyki warstw na granicy faz woda/powietrze (metoda Langmuira/Langmuira-Blodgett, mikroskopia kąta Brewstera, elipsometria, mikrowaga kwarcowa, pomiar kąta zwilżania), spektroskopia w podczerwieni pojedynczych warstw (PMIRRAS), dyfrakcja rentgenowska (PXRD), mikroskopia elektronowa (SEM, TEM), mikroskopia sił atomowych (AFM), technika dynamicznego rozpraszania światła (DLS), pomiar potencjału zeta.

W cyklu 2023Z:

W cyklu 2024Z:

Rodzaj przedmiotu

obowiązkowe

Założenia (opisowo)

Wiedza jaką powinien posiadać student przed rozpoczęciem wykładu to podstawy wiedzy o chemii fizycznej i nieorganicznych oraz podstawy analizy instrumentalnej.

Koordynatorzy przedmiotu

Dorota Nieciecka

Tryb prowadzenia

w sali

Efekty kształcenia

Po ukończeniu kursu student powinien samodzielnie:
1. Wyjaśniać podstawy fizykochemiczne przedstawionych metod;
2. Opisać współczesne techniki wykorzystywane w analizie fizykochemicznej i materiałów;
3. Umieć zaproponować rozwiązanie zadania problemowego związanego z metodami przygotowywania i analizą materiału;
4. Posiadać wiedzę ogólną na temat budowy i działania omówionych aparatów;
5. Umieć zaproponować odpowiednią technikę oraz metodykę zbadania wybranej właściwości fizyko-chemicznych materiału.

Kryteria oceniania

Egzamin końcowy w formie ustnej

Praktyki zawodowe

nie dotyczy

Literatura

1. Kęcki Z., Podstawy spektroskopii molekularnej, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1992
2. Barańska M., w Fotochemia i spektroskopia optyczna. Ćwiczenia laboratoryjne (red. Najbar J., Turek A.), Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2009.
3. Feldman L. C., Mayer J. W., Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, North- -Holland, New York–Amsterdam–London 1986
4. Spectroscopy for Surface Science (red. Clark R. J. H., Hester R. E.), John Wiley & Sons, Chichester 1998
5. Bhushan B., Fusch H., Hosaka S., Applied scanning probe methods, Springer, 2002.
6. Metody spektroskopowe i ich zastosowanie do identyfikacji związków organicznych (red. Zieliński W., Rajca A.), WNT, Warszawa 2000
7. de Hoffmann E., Charette J., Stoobant V., Spektrometria mas, WNT, Warszawa 1998
8. Adamson A.W., Chemia fizyczna powierzchni, PWN, Warszawa 1963
9. Pigoń K., Ruziewicz Z., Chemia fizyczna. 1. Podstawy fenomenologiczne, Wyd. Naukowe PWN, Warszawa 2005

W cyklu 2023Z:

1. Kęcki Z., Podstawy spektroskopii molekularnej, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1992

2. Barańska M., w Fotochemia i spektroskopia optyczna. Ćwiczenia laboratoryjne (red. Najbar J., Turek A.), Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2009.

3. Feldman L. C., Mayer J. W., Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, North- -Holland, New York–Amsterdam–London 1986

4. Spectroscopy for Surface Science (red. Clark R. J. H., Hester R. E.), John Wiley & Sons, Chichester 1998

5. Bhushan B., Fusch H., Hosaka S., Applied scanning probe methods, Springer, 2002.

6. Metody spektroskopowe i ich zastosowanie do identyfikacji związków organicznych (red. Zieliński W., Rajca A.), WNT, Warszawa 2000

7. de Hoffmann E., Charette J., Stoobant V., Spektrometria mas, WNT, Warszawa 1998

8. Adamson A.W., Chemia fizyczna powierzchni, PWN, Warszawa 1963

9. Pigoń K., Ruziewicz Z., Chemia fizyczna. 1. Podstawy fenomenologiczne, Wyd. Naukowe PWN, Warszawa 2005