Wstęp do krystalografii B 1200-1WSKRBW6
Definicje kryształu. Omówienie podstawowych pojęć: projekcje sferyczne, projekcje dwuwymiarowe, cyklograficzne i stereograficzne, symetria punktowa, grupy punktowe, ilustracja symetrii punktowej za pomocą projekcji, reguły współistnienia elementów symetrii, symetria translacyjna, układy krystalograficzne, sieć przestrzenna, komórka elementarna, wskaźniki Millera, proste obliczenia krystalograficzne, sieci Bravais, grupy przestrzenne, interpretacja grup przestrzennych w Międzynarodowych Tablicach Krystalograficznych, struktury najgęstszego upakowania, grupy kolorowe, antysymetria, sieć odwrotna, symetria sieci odwrotnych, typy struktur, kryształy jonowe, kowalencyjne i molekularne, defekty w strukturze, podstawowe cechy promieniowania rentgenowskiego, podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, teorie dyfrakcji oraz ogólny tok rentgenowskiej analizy strukturalnej
Rodzaj przedmiotu
fakultatywne
Tryb prowadzenia
Założenia (opisowo)
Efekty kształcenia
Oczekujemy poznania, zrozumienia i kreatywnego używania symetrii, grup punktowych oraz grup przestrzennych w celu rozwiązywania problemów dotyczących ciała stałego. Oczekujemy także poznania podstawowych idei krystalografii rentgenowskiej.
Kryteria oceniania
Ocena z wykładu jest identyczna jak ocena z ćwiczen i wyznaczana jest w/g poniższej procedury.
Na początku większości cwiczeń związanych z tym przedmiotem odbywają się krótkie 10 minutowe sprawdzianyoceniane w skali od 1 do 10 punktów. Suma punktów zdobytych na tych kolokwiach jest przeskalowywana do skali od 0 do 100 punktów.
Mniej więcej w środku kursu odbywa się 2-godzinne kolokwium z ok. połowy materiału oceniane w skali od 0 do 100 punktów i po zakończeniu kursu odbywa sie drugie kolokwium, także ok. 2-godzinne, oceniane w skali od 0 do 100 punktów.
Ocena - identyczna z wykładu jak i ćwiczeń - wystawiana jest na podstawie sumarycznej liczby punktów zdobytych odnienionych do maksymalnej liczby punktów możliwych do zdobycia.
Punkty zdobyte (x) przeliczane są na oceny w/g skali:
x>90% max. liczby punktów (mlp) ocena 5+ celująca
80% < x < 90% mlp ocena 5
70% < x < 80% mlp ocena 4+
60% < x < 70% mlp ocena 4
50% < x < 60% mlp ocena 3+
40% < x < 50% mlp ocena 3
x < 40% mlp ocena 2
Mozliwa jest ustna poprawa na wyższą ocenę w przypadku przekonania studenta, że jego wiedza i umiejętności z tego przedmiotu zasługują na wyzszą ocenę. Poprawa ustna na wyższą ocenę możliwa jest po indywidualnym umówieniu się z osobą prowadzącą ten przedmiot.
Praktyki zawodowe
nie
Literatura
1. Z. Bojarski, M. Gigla, K. Stróż, M. Surowiec, Krystalografia. Podręcznik wspomagany komputerowo, PWN, Warszawa, 1996, 2001, 2007.
2. Z. Trzaska Durski, H. Trzaska Durska, Podstawy krystalografii, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003.
3. M. van Meerssche i J. Feneau-Dupont, Krystalografia i chemia strukturalna, PWN, Warszawa 1984.
4. C. Giacovazzo, H. Z. Monaco, D. Biterbo, F. Scordari, G. Gilli, G. Zanotti, M. Catti, Fundamentals of Crystallography, IUCR, Oxford University Press, 2000.
Więcej informacji
Dodatkowe informacje (np. o kalendarzu rejestracji, prowadzących zajęcia, lokalizacji i terminach zajęć) mogą być dostępne w serwisie USOSweb: